我們可以看到
殘余應力分析存在的重要性，我們對一個工件進行殘余應力分析可以很好的規(guī)避掉很多的彎路，從而節(jié)省成本提高效率，今天無錫張華帶大家來了解一下XRD該怎么樣進行殘余應力分析。
要想進行殘余應力分析，我們得先知道殘余應力這個是什么，外力撤除后在材料內部殘留的應力就是殘余應力。但是，習慣上將殘余應力分為微觀應力和宏觀應力。兩種應力在X射線衍射譜中的表現(xiàn)是不相同的。
微觀應力是指晶粒內部殘留的應力，它的存在，使衍射峰變寬,而超微觀應力的存在則會使衍射峰強度降低。這種變寬通常與因為晶粒細化引起的衍射峰變寬混雜在一起，兩者形成卷積。通過測量衍射峰的寬化，并采用近似函數(shù)法或傅立葉變換方法來求得微觀應力的大小。
宏觀應力是指存在于多個晶體尺度范圍內的應力，相對于微觀應力存在的范圍而視為宏觀上存在的應力。一般情況下，殘余應力的術語就是指在宏觀上存在的這種應力。宏觀殘余應力(以下稱殘余應力)在X射線衍射譜上的表現(xiàn)是使峰位漂移。當存在壓應力時，晶面間距變小，因此，衍射峰向高角度偏移，反之，當存在拉應力時，晶面間的距離被拉大，導致衍射峰位向低角度位移。通過測量樣品衍射峰的位移情況，可以求得殘余應力。
殘余應力分析
實驗方法在使用衍射儀測量應力時，試樣與探測器θ-2θ關系聯(lián)動，屬于固定ψ法。通常ψ=0°、15°、30°、45°測量數(shù)次。當ψ=0時，與常規(guī)使用衍射儀的方法一樣，將探測器(記數(shù)管)放在理論算出的衍射角2θ處，此時入射線及衍射線相對于樣品表面法線呈對稱放射配置。然后使試樣與探測器按θ-2θ聯(lián)動。在2θ處附近掃描得出指定的HKL衍射線的圖譜。當ψ≠0時，將衍射儀測角臺的θ-2θ聯(lián)動分開。先使樣品順時針轉過一個規(guī)定的ψ角后，而探測器仍處于0。然后聯(lián)上θ-2θ聯(lián)動裝置在2θ處附近進行掃描，得出同一條HKL衍射線的圖譜。最后，作2θ-sin2ψ的關系直線，最后按應力表達σ=K·Δ2θ/Δsin2ψ=K·M求出應力值。
殘余應力分析
X射線的穿透深度較小(約10μm)，只能測量材料表面的殘余應力，如果需要測量材料部的殘余應力，或者測量應力梯度，其能力則顯得有些蒼白。通常解決的辦法是需要采用剝層法。即對樣品逐層剝離，測量每層表面的應力，然后采用一定的算法扣除因為剝層造成的應力松弛，換算成各層真實的應力。中子衍射法是一種測量結構內部應力的常用方法。中子衍射法以中子流為入射束，照射試樣，當晶面符合布拉格條件時，產生衍射，得到衍射峰。該方法的原理與普通X射線衍射方法類似，也是根據衍射峰位置的變化，求出應力。但與普通X射線衍射法相比，中子衍射法利用中子能穿透試樣較大深度的特性，可以測得樣品內部殘余應力，且適于對大塊試樣進行測定。因此，中子衍射法對測定樣品內部平均殘余應力具有很大的優(yōu)越性。
